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Espectrómetro de fluorescência de raios X disperso de energia EDX8800 (tipo vácuo)
Breve introdução: Espectrómetro de fluorescência de raios X disperso de energia EDX8800 (tipo de vácuo) Análise elementar varia de sódio (Na) a urânio
Detalhes do produto
Detalhes:
Espectrómetro de fluorescência de raios X disperso de energia EDX8800 (tipo vácuo)
Características do produto
Adotando o detector de deriva de silício SDD (SILICON DRIFT DETECTOR) original importado dos EUA avançado internacionalmente, a resolução é mais alta, melhorando significativamente o limite de detecção de elementos leves, o limite de detecção padrão é 100 vezes maior do que o detector SI-PIN; A medição é mais ampla e abrange basicamente vários requisitos de análise de elementos de materiais convencionais;
2. configurar o sistema de processamento integrado de dados de importação original dos EUA, a captura de dados é mais rápida, a medição é mais estável, a repetibilidade e a estabilidade de longo prazo são melhores;
Configurar o software de medição dedicado recém-desenvolvido, integrando vários métodos de cálculo gráfico, para que os dados de medição sejam mais precisos e estáveis;
O software monitora o estado operacional dos principais componentes do núcleo do instrumento, o uso é mais rápido;
5. configurar um sistema de vácuo especialmente desenvolvido, melhor desempenho do vácuo e melhores resultados de teste;
Parâmetros técnicos:
A análise elementar varia de sódio (Na) a urânio (U)
A análise do conteúdo elementar varia de 1ppm a 99,99%
Limite de detecção baixo: 1ppm
Tempo de medição: 60-200 segundos (ajustável)
Fonte de alimentação do instrumento: AC220 ± 5V
Resolução energética de 129±5eV
7. Grande corrente de saída do tubo de raios X: 1mA
Pressão máxima: 6,7 x 10-2Pa
Dimensão da cavidade da amostra: 610 * 320 * 100 (mm) (sem vácuo) / Φ100 * h75 (mm) (cavidade da amostra do vácuo)
Repetibilidade de múltiplas medições (com base em amostras padrão): ± 0,05% (alto conteúdo) / ± 0,002% (microquantidade)
Estabilidade de trabalho a longo prazo (com base em amostras padrão) ±: 0,06% (alto conteúdo) / ± 0,0025% (microquantidade)
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